axio csm 700在共聚焦光路中采用白色光源来获得样品清晰的光学切片，并将之叠加获得三维形貌。基于操作简易人性化的分析软件，您能够对数据结果进行定量的分析。该非接触式测量方法能快速、可重复量化膜层厚度，并能捕捉诸如空洞和杂质等表下接口。
基于其高度创新的技术，axio csm 700能够以真彩色形式生成共聚焦图像，同时捕获色彩和高度信息。因此能够可靠地对特定位置进行定位。
采用线帧模式，axio csm700能够以超过100幅/秒的速度，快速并可重复地对您的样品表面进行测量。16比特的分辨率使得精确形貌测量成为可能。在真彩色条件下获取一个完整的z轴光切图（z-stack）通常仅仅只需要30秒。
与接触式测量装置相比，共聚焦显微镜能够通过非接触式分析来呈现所有光学分析器的优势，从而既使得样品表面完好无损（无划痕或标记），又能对软样品进行分析处理。
技术参数
类型共聚焦显微镜
放大倍数67,500x（配备150x放大倍数的物镜） （数码变焦16x，以1600 x 1200像素在20.1”显示器上显示）
数据记录针对图像数据处理与测量的axiocsm 700 相应软件：2d：距离、面积、面积比及其他数据3d：高度、粗糙度（线/面，基于din en iso 4287标准进行计算），体积、表面积、颗粒度分析及更多
配件扫描载物台： 6寸载台带有平台以及晶圆载盘（选配真空固定装置）；可选12寸晶圆载盘并带有真空固定装置（手动旋转）光源： 氙灯（波长范围：400-700 nm）图像采集速度： 7.5帧/秒（高速彩色模式）；>100帧/秒（线帧模式）高度测量：最大测量范围 15 mm步进精度 0.01 µm16比特分辨率最大样品高度： 63 mm

---

嘉兴科普仪器设备有限公司
蒋珍峰
18769882250