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E3-3D:三维定位镀层测厚仪器

2022-12-17 8:11:12发布3次查看ip:发布人:
加工定制品牌禾苗
型号E3-3D类型多元素分析仪器


硬件配置
探测器
● 类型:x123探测器(原装进口高性能电致冷半导体探测器)
● be窗厚度:1mil
● 晶体面积:25mm2
● 分辨率:145ev
●信号处理系统:dp
x射线管
●电压:0-50v
●电流;2ma
●功率:50w
●靶材:mo
●be窗厚度:0.2mm
●使用寿命:大于2w小时
高压电源
●输出电压:0-50kv
●灯丝电流0-2ma
●功率:50w
●纹波系数:0.1%(p-p值)
●8小时稳定性:0.05%
摄像头
●焦距:微焦距
●驱动:免驱动
●像素:500万像素
准直器、滤光片
●系统:快拆卸准直器、滤光片系统
●材质:多种材质准直器
●光斑:光斑大小φ0.2mm、φ1.0mm、φ2.0mm、φ4.0mm可选
十字激光头
●光斑形状:十字线
●输出波长:红光650nm
●光学透镜:玻璃透镜
●尺寸:φ10×30mm
●发散角度:0.1-2mrad
●工作电压:dc 5v
●输出功率:<5mw
●工作温度:-10~50℃
其它配件
●开关电源:进口高性能开关电源
●散热风扇:进口低噪声、大风量风扇
应用领域
● 根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度。
● 配备开放式分析模型功能,客户可自行建立自己的工作模型。
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