itest 芯片测试仪 itest集成以下系统：数字测试系统共享资源测试系统，每个管脚有独立测试资源的测试系统。用来特性化测试集成电路的逻辑功能。 线性器件测试系统用来测试线性集成电路的测试系统。模拟测试系统 用来测试线性集成电路的测试系统。 存储器测试系统 dram测试系统，闪存测试系统。这些类型的自动化测试设备用于验证内存芯片。 板级测试系统板级测试是用来测试整块印制电路板pcba，而不是针对单个集成电路。 rf测试系统 用来测试射频集成电路的测试。soc测试系统通常就是一个昂贵的混合信号集成电路测试系统，用来测试超大规模集成电路(vlsi)芯片；并且这种超大规模集成电路(vlsi)芯片的集成度比传统的混合信号芯片高得多。　综合测试项目：
1、直流输出电压 2、直流输出电流 3、峰对峰值杂讯 4、有效值杂讯 5、暂态电压 6、电压稳定度 7、电流稳定度8、开机时序 9、上升时间 10、下降时间 11、关机时间 12、额外量测 13、浪涌电流测试 14、过冲电压15、电源备妥信号（pg） 16、电源失效信号（pf） 17、开启电源供应器信号 18、输出上升波形 19、输出下降波形 20、效率21、输入有效值电流 22、输入峰值电流 23、输入功率 24、输入功率因数 25、输入电压缓升/降测试 26、输入频率缓升/降测试27、输出电压顺序 28、短路测试 29、短路电流测试 30、过电压保护 31、过载保护 32、过功率保护 33、扩充量测34、测试中调整 35、输入断电测试 36、输入电源失真模拟 37、gpib，rs232读/写 38、ttl信号控制 39、继电器控制40、条码读取41、动态测试
产品实图：测试界面

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