该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
主要性能指标：
*波长范围及峰值波长 (二者择其一)
   （1）365探头（光谱响应曲线见图）
          λ：(320～400)nm； λp＝365nm
   （2）420探头（光谱响应曲线见图）
           λ：(375～475)nm；λp＝420nm
* 辐照度测量范围
    (0.1～199.9×103)μw/cm2
* 紫外带外区杂光
    365    小于0.02％
    420    小于0.02％
* 准确度
   ±10％
* 响应时间
   1秒
* 使用环境
  温度(0～40)℃；湿度＜85％rh                
* 尺寸和重量
  180mm×80mm×36mm；0.2kg
* 电源
   6f22型9v积层电池一只

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金磊
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清河安宁庄东路