|
老化板类型 |
适合器件 |
试验种类 |
PCB板 |
PCB基板适合工作条件 |
|
集成电路老化板 |
IC |
集成电路高温动态老化试验 / IC Burn-in |
FR5 |
-50℃ 〜180℃ |
|
正向寿命老化板 |
中小功率二极管、LED、光耦、稳压管、三极管、MOS管、IGBT、三端稳压器、晶闸管、桥堆 等器件 |
常温下:OPLIFE试验/稳态寿命试验/间歇寿命试验 |
FR4 |
-50℃ 〜130℃ |
|
高温寿命老化板 |
二极管、LED、光耦、稳压管、三极管、MOS管、 IGBT、三端稳压器、晶闸管、桥堆等器件 |
高温下:OPLIFE试验/稳态寿命试验/间歇寿命试验/HTOL |
Polyimide |
-60℃—240℃ |
|
高温反偏老化板 |
二极管、三极管、MOS管、IGBT、桥堆等器件 |
HTRB/HTGB试验 |
Polyimide |
-60℃ 〜240℃ |
|
电容器 高温老化板 |
电容器 |
电容器高温耐久性老化试验 |
Polyimide |
-60℃ 〜240℃ |
|
高温高湿反偏老化板 |
二极管、三极管、MOS管、IGBT、桥堆等器件 |
H3TRB试验 |
Polyimide |
85℃ 85%湿度 |
|
高气压高温高湿反偏老化板 |
二极管、三极管、MOS管桥堆等器件 |
HAST bias |
Polyimide |
130℃ 90%湿度 2. 5个气压
|
合作客户多为航天,军工,检测中心,以及上市公司,品质有保障。
种类齐全适合各种封装类型。和配套设备
